Geniş kasa içinde yayılan sıvı ekran katmanlarına, bataryaya, soketlere ve anakarta ulaşabilir. Cihazın çalışması içeride oksit olmadığı anlamına gelmez; enerji altında beklemek hasarı ilerletebilir.
Yanlış kurutma ve şarj denemeleri kısa devre riskini artırabilir.
Sıvının giriş noktası ve yayıldığı alan modelin yapısına göre haritalanır.
Yalnızca oksidi temizlemek yeterli değildir; hasarlı hat ve bileşenler ölçülür.
Bu rehber, kullanıcıya güvenli ilk ayrımı göstermek için belirti ve ölçüm olasılıkları karşılaştırılarak hazırlanmıştır. Kesin teşhis; cihaz geçmişi, sağlam referans parça, akım davranışı, mikroskop kontrolü ve hat ölçümü birlikte değerlendirilerek konur.
Önerilmez. Nem ve oksit enerji altında ilerleyebilir; cihaz kapatılıp şarja takılmadan incelenmelidir.
Pirinç cihaz içindeki sıvıyı ve oksidi temizlemez; ayrıca zaman kaybettirir. Cihazın kontrollü açılması ve iç bileşenlerin incelenmesi gerekir.
Hasarın yerine ve NAND/işlemci durumuna bağlıdır. Veri önceliği baştan belirtilirse sıfırlama yapılmadan uygun analiz sırası planlanır.