iPhone 12 ailesinde darbe, eğilme, sıvı ve yüksek ısı çok katlı anakart bağlantılarını etkileyebilir. Standart parça testinden sonra katmanlar, baseband, NAND ve güç hatları model bazında ölçülür.
Başka bir serviste anakart, işlemci veya NAND işlemi denenmiş olması dosyanın kapandığı anlamına gelmez. Anakartı mevcut hâliyle baştan ölçüyor; eksik bileşen, kopuk pad, katman hasarı, kısa devre ve önceki ısı izlerini ayrı ayrı kaydediyoruz.
Model varyantı ve cihaz geçmişi ölçüm planını belirler.
Katman ayrılması yalnızca diğer olasılıklar elendikten sonra değerlendirilir.
Anakart işleminden sonra tüm kablosuz ve temel işlevler birlikte test edilir.
Bu rehber, kullanıcıya güvenli ilk ayrımı göstermek için belirti ve ölçüm olasılıkları karşılaştırılarak hazırlanmıştır. Kesin teşhis; cihaz geçmişi, sağlam referans parça, akım davranışı, mikroskop kontrolü ve hat ölçümü birlikte değerlendirilerek konur.
SIM, anten ve operatör olasılıkları elendikten sonra baseband ve anakart katmanları değerlendirilir.
Hasarın CPU, NAND veya katmanlara etkisine bağlıdır. Akım ve mikroskop analizi sonrası uygunluk açıklanır.
Evet. 12 mini, 12, 12 Pro ve 12 Pro Max dahil tüm seri ücretsiz analize kabul edilir.