20 yıllık telefon sektörü tecrübesiyle açılmayan, işlemci veya NAND arızalı, sıvı görmüş ve başka yerde sonuç alınamamış iPhone cihazları inceliyoruz. Ölçüm yapmadan parça değiştirmiyor; doğrulanan işlem, fiyat, veri riski ve süreyi onayınızdan önce açıklıyoruz.
Başka bir serviste anakart, işlemci veya NAND işlemi denenmiş olması dosyanın kapandığı anlamına gelmez. Anakartı mevcut hâliyle baştan ölçüyor; eksik bileşen, kopuk pad, katman hasarı, kısa devre ve önceki ısı izlerini ayrı ayrı kaydediyoruz.
Cihazın açılmaması tek başına işlemci arızası anlamına gelmez. Güç hattı, kısa devre, soket, sensör veya yazılım kaynaklı olasılıklar ayrıştırılır.
Kesin işlem cihazın modeline, mevcut hasara ve daha önce yapılan müdahalelere göre analiz sonrasında belirlenir.
Cihazın akım davranışı, termal tepkisi ve arıza kayıtları incelenir. Mikroskop kontrolünden sonra şüpheli hatlar ölçülür; gerekli görülürse sağlam test parçalarıyla çapraz kontrol yapılır.
Anakart arızalarında yalnızca model adına bakarak doğru fiyat verilemez. Tek bir kısa devre bileşeni ile işlemci, NAND veya çok katlı anakart işleminin kapsamı aynı değildir. Ücretsiz analizden sonra toplam fiyat ve tahmini süre yazılı onayınıza sunulur.
Eskişehir'den gönderilen ve üç farklı noktada sonuç alınamayan iPhone 17 Pro Max, takım aktarımı gerektiren anakart vakası olarak incelendi. İşlem iki gün içinde tamamlanıp cihaz geri kargolandı ve yapılan anakart işlemi sınırsız garanti kapsamına alındı.
Fotoğraf ve bilgiler cihazın işlemci, NAND ve eşleşmiş bileşenleriyle ilişkilidir. Veri öncelikli taleplerde cihazı sıfırlayabilecek veya eşleşmeyi bozabilecek adımlara başlamadan önce risk kullanıcıya bildirilir.
İşlem kararı yalnızca belirtiye göre verilmez. Cihazın geliş durumu, yapılan ölçüm, uygulanacak yöntem, kullanıcı onayı ve teslim testleri aynı işlem kaydında tutulur.
Bu rehber, kullanıcıya güvenli ilk ayrımı göstermek için belirti ve ölçüm olasılıkları karşılaştırılarak hazırlanmıştır. Kesin teşhis; cihaz geçmişi, sağlam referans parça, akım davranışı, mikroskop kontrolü ve hat ölçümü birlikte değerlendirilerek konur.
Evet. Önceki işlemler, eksik bileşenler ve zarar görmüş hatlar ayrıca değerlendirilir. Sonuç ve risk, ücretsiz analiz sonrasında bildirilir.
Birçok bileşen işlemi verileri silmez; ancak NAND, işlemci veya ağır kısa devre hasarında risk cihazın durumuna bağlıdır. Veri riski varsa onaydan önce açıklanır.
Hayır. Fiziksel olarak parçalanmış katmanlar, geri dönüşsüz işlemci/NAND hasarı veya eksik eşleşmiş parçalar sonucu etkileyebilir. Kesin uygunluk analizle belirlenir.
Basit bileşen ve hat işlemleriyle CPU, NAND veya takım aktarımı aynı sürede tamamlanmaz. Tahmini süre, ücretsiz analizden sonra arızaya ve test ihtiyacına göre bildirilir.
Fiyat; model, arızalı hat veya entegre, önceki müdahale ve veri önceliğine göre değişir. Cihaz ücretsiz analiz edilir ve toplam fiyat onaydan önce açıklanır.