Yeni nesil iPhone anakartlarında işlemci, NAND ve eşleşmiş bileşenler kontrolsüz müdahaleye karşı hassastır. Önce çevre parçaları ve güç hatları doğrulanır; kritik işlem yalnızca arıza alanı ölçümle desteklenirse değerlendirilir.
Başka bir serviste anakart, işlemci veya NAND işlemi denenmiş olması dosyanın kapandığı anlamına gelmez. Anakartı mevcut hâliyle baştan ölçüyor; eksik bileşen, kopuk pad, katman hasarı, kısa devre ve önceki ısı izlerini ayrı ayrı kaydediyoruz.
Darbe, sıvı ve önceki işlem bilgisi ilk kayıtla birlikte değerlendirilir.
İşlem sırası veri kaybı ve eşleşme riskini azaltacak şekilde belirlenir.
Onarımın yalnızca açılış değil günlük kullanım sonucuna bakılır.
Bu rehber, kullanıcıya güvenli ilk ayrımı göstermek için belirti ve ölçüm olasılıkları karşılaştırılarak hazırlanmıştır. Kesin teşhis; cihaz geçmişi, sağlam referans parça, akım davranışı, mikroskop kontrolü ve hat ölçümü birlikte değerlendirilerek konur.
Hasarlı alan mevcut anakart üzerinde güvenli şekilde giderilebiliyorsa eşleşmiş parçaları ve veriyi korumak için mevcut anakart değerlendirilir.
Hasar CPU, NAND ve katmanlara ulaşmadıysa mümkün olabilir; inceleme öncesi kesin veri garantisi verilemez.
Evet. Önceki işlem ve eksik bileşenler kayıt altına alınarak ikinci analiz yapılır.