iPhone 16 Pro anakartında geri dönüşü zor bir müdahaleden önce bütün düşük riskli olasılıkları eliyoruz.
Güncel iPhone modellerinde yoğun bileşen yapısı, eşleşmiş parçalar ve veri güvenliği işlem sırasını kritik hâle getirir. Cihaz geçmişi, akım davranışı ve çevre birimleri kayda alınarak yalnızca doğrulanmış arıza alanına müdahale edilir.
Başka bir serviste anakart, işlemci veya NAND işlemi denenmiş olması dosyanın kapandığı anlamına gelmez. Anakartı mevcut hâliyle baştan ölçüyor; eksik bileşen, kopuk pad, katman hasarı, kısa devre ve önceki ısı izlerini ayrı ayrı kaydediyoruz.
Cihazın açılmaması dışında kısmi fonksiyon kayıpları da anakart iletişimiyle ilişkili olabilir.
Hiç açılmama ve kısa devre
USB-C şarj ve veri sorunu
Şebeke veya eSIM problemi
Kamera ve sensör iletişim hatası
Rastgele yeniden başlama
Sıvı ve oksit hasarı
02
Risk kontrollü analiz
Kritik bileşenlere geçmeden önce onarılabilir çevre hatları incelenir.
Ekran, batarya ve şarj flexi testi
Ana ve ikincil güç hatları
Termal kısa devre taraması
NAND ve CPU çevresi
Baseband ve kablosuz bağlantılar
Önceki işlem veya darbe izi
03
Fonksiyon ve veri kontrolü
İşlem sonrası cihazın tüm eşleşmiş sistemleri doğrulanır.
Face ID ve ön sensörler
Tüm kameralar ve Camera Control
Şebeke, Wi‑Fi ve Bluetooth
USB-C şarj ve veri
Batarya tüketimi ve sıcaklık
Açılış ve uzun süreli kararlılık
TEKNİK İÇERİK KAYDI • 3 EYLÜL 2026
Yolla Yapsın Teknik İçerik Ekibi
Bu rehber, kullanıcıya güvenli ilk ayrımı göstermek için belirti ve ölçüm olasılıkları karşılaştırılarak hazırlanmıştır. Kesin teşhis; cihaz geçmişi, sağlam referans parça, akım davranışı, mikroskop kontrolü ve hat ölçümü birlikte değerlendirilerek konur.